大規(guī)模集成電路測(cè)試
拼音dà guī mó jí chéng diàn lù cè shì
英語(yǔ)翻譯
【計(jì)】 LSI testing
分詞翻譯
大規(guī)模集成電路的英語(yǔ)翻譯：
【計(jì)】 large scale integrated circuit; large-scale integrated circuit
ultra LSI
測(cè)試的英語(yǔ)翻譯：
test; testing
【計(jì)】 T
【化】 measurement and test
【經(jīng)】 test
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糾錯(cuò)
英語(yǔ)造句
最新應(yīng)用
